杭州博測材料科技有限公司2025-08-16
樣品自身的不均勻性和顆粒度效應(yīng)是比較大的誤差來源之一。 XRF是一種表面分析技術(shù),其檢測深度有限(從微米到毫米級),如果樣品本身不均勻,分析點的成分無法代指整個樣品,結(jié)果就會產(chǎn)生偏差。同樣,粉末或顆粒樣品的顆粒大小和堆積密度差異會導(dǎo)致X射線的散射和吸收程度不同,影響強度測量。為減小此類誤差,對于固體樣品應(yīng)選擇多個點分析取平均值;對于粉末樣品,則需要進行精細研磨(通常至400目以下)并使用壓片機壓制成表面平整、致密的圓片,以確保樣品的均勻性和一致性。
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體效應(yīng)(Matrix Effects)是另一個關(guān)鍵的誤差來源,包括吸收效應(yīng)和增強應(yīng)。 樣品中其他元素的存在會吸收或增強待測元素發(fā)出的特征X射線,從而導(dǎo)致強度與濃度之間的非線性關(guān)系。例如,一種高濃度元素可能會強烈吸收另一種元素的射線,使其測量值偏低;或者其發(fā)射的射線恰好激發(fā)另一種元素,使其測量值虛高。為了克服基體效應(yīng),有效的方法是使用經(jīng)過認證的標準物質(zhì)(CRM)來建立校準曲線。現(xiàn)代儀器軟件也內(nèi)置了強大的數(shù)學(xué)校正模型(如基本參數(shù)法FP和經(jīng)驗系數(shù)法),可以通過數(shù)學(xué)計算來補償這些效應(yīng),從而獲得更準確的結(jié)果。
樣品表面狀態(tài)和幾何位置的重現(xiàn)性對精度至關(guān)重要。 樣品表面的光滑度、平整度以及每次放置的位置和方向必須保持一致。凹凸不平的表面會不規(guī)則地散射X射線,影響探測器的接收效率。同樣,分析窗口與樣品之間的距離(工作距離)和角度的微小變化都會導(dǎo)致X射線強度的測量波動。為減小此類誤差,在制備樣品時應(yīng)盡可能保證表面光滑平整(如拋光金屬塊、壓制粉末片)。上機測試時,需使用專門的樣品杯確保每次放置的位置和高度完全一致,對于不規(guī)則樣品,可采用旋轉(zhuǎn)杯來消除顆粒效應(yīng)和位置不一致帶來的影響。博測材料能夠為您的樣品進行前處理,較大程度的保證數(shù)據(jù)的準確性,值得您的信賴。
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