檢漏儀內置標準漏孔的優(yōu)點是漏率穩(wěn)定：檢漏儀自帶的滲氦漏孔，溫度系數一般為3.0%~4.0%/℃，由于天氣原因不同的溫差，以及檢漏儀內部開機前后內部相對封閉環(huán)境的溫度變化等，均會對漏孔的漏率影響相對較大，而且滲氦漏孔的穩(wěn)定時間非常長，通常來說是需要幾個小時的，這必然會造成檢漏儀上的偏差； 上海東貝真空采用的是微通道毛細管技術它的溫度補償小于0.3%/℃，可以忽略溫度補償（溫度變化10℃漏率變化相當于滲氦漏孔變化1℃）。標準漏孔選型需匹配實際檢漏場景需求 。上海氣密性漏孔參數

檢漏方法：人們對于泄漏的檢測很早就已經出現，檢漏方法也經歷了從簡單的定性檢測到現代復雜的定量檢測過程。檢漏方法根據被檢設備所處的狀態(tài)又可分為加壓檢漏法和真空檢漏法。加壓檢漏法將被檢件內部充以比外部壓力更高的示蹤氣體，在被檢件外面用適當的方法判斷有無示蹤氣體漏出、從哪兒漏出、漏出量多少等，進而判斷被檢件有無泄漏點，泄漏點的位置和大小。屬于這種方法的有壓降法、氣泡法、鹵素檢漏儀外探頭法、鹵素噴燈法、加壓滲透法、聲波法、紅外線熱圖像法、稱質量法、放射性同位素法。真空檢漏法被檢件內部抽成真空后，將示蹤氣體施于被檢件外部，如果被檢件器壁上有漏，示蹤氣體通過泄漏點進入被檢件內部，利用某種方法將漏進的示蹤氣體檢測出來，從而判斷出泄漏點的位置和漏率大小。屬于這種方法的有靜態(tài)升壓法、放電管法、鹵素檢漏儀內探頭法、各類真空計法、離子泵檢漏法、氦質譜噴吹和氦罩檢漏法等。河南全系列漏孔型號標準漏孔可檢測檢漏儀的靈敏度指標。

壓差式標準漏孔在此是指壓差檢漏系統(tǒng)（泄漏儀）中用來模擬被檢產品泄漏的漏孔，它的使用方式和正壓漏孔相近，只是一般漏率比較大，在（0.1-1000）SCCM。漏率單位一般采用SCCM或SLM。介質也一般為空氣或氮氣。該類型的標準漏孔主要配合檢漏儀使用，漏率值得大小主要由被檢產品的漏率指標確定，是產品檢漏的定量標準和檢漏的保證。在國內許多省市級計量院所和檢漏儀生產廠家已經長期開展此項校準活動，但該產品的校準需要考慮流量，大氣壓力，壓力，氣體特性和漏率綜合知識和標準，到目前為止還沒有一家能夠比較全，嚴謹地開展過研究。對于許多企業(yè)標準和地方標準，錯誤和疏漏的方面很多，需要大量的工作才能夠完成該項工作。

溫度對于標準漏孔的性能有著明顯的影響，多數的漏孔需在規(guī)定的溫度范圍內來使用，以保證泄漏率的穩(wěn)定性。部分高精度漏孔會配備溫度補償裝置，從而減少環(huán)境溫度波動的影響。標準漏孔的校準需要依托正規(guī)計量機構，通過與更高等級的標準裝置來比對，確定其實際泄漏率，并出具校準證明，確保量值的溯源性。長期存放的標準漏孔需注意防潮、防塵，避免通道堵塞或材料老化。使用前應檢查外觀是否完好，必要時進行重新校準，確保性能符合要求。漏孔檢測前需明確檢測范圍及標準。

檢漏技術發(fā)展前景：目前，我們掌握的檢漏技術是完全可以滿足我們的生產需要的，對于檢漏儀的發(fā)展，更多的是向智能化、模塊化、集成化方向發(fā)展。隨著加工技術的進步和集成電路技術的發(fā)展，檢漏儀日趨輕便，甚至微型化。通訊技術的發(fā)展也使得對泄漏的狀態(tài)監(jiān)測成為可能，為了及時發(fā)現泄漏，預防嚴重泄漏事故的發(fā)生起也到了保障作用。同時現代科技的發(fā)展需求也向檢漏技術提出了精度和靈敏度更高，更加便捷，更加快速、成本更低的要求。標準漏孔使用壓力不能超過額定值 。可調標準漏孔應用

標準漏孔在半導體制造檢漏中經常使用。上海氣密性漏孔參數

蘭州510所建立了國內測量范圍較寬，不確定度較小的正壓漏率校準裝置。計量院在2010年前后也搭建了一套試驗用正壓漏孔校準裝置。并與今年正式立項建立正壓漏孔校準裝置，涵蓋了專題中第二，三種正壓漏孔的校準。上海市計量測試技術研究院在2004年建立國內一套正常開展量值溯源的正壓漏率校準校準裝置，并通過CNAC實驗室認證。近幾年來該裝置每年完成超過500件標準漏孔的校準服務，在長期的校準過程中驗證了裝置和校準規(guī)范在量值的不確定度、長期穩(wěn)定性方面的成熟。為國內起草該范圍的正壓漏孔的校準規(guī)范做好了技術準備。上海氣密性漏孔參數