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同步輻射X射線吸收譜(XAFS)的基本物理原理是什么?

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杭州博測材料科技有限公司2025-08-06

同步輻射X射線吸收譜(XAFS)的基本原理: 1、當一束能量連續可調的X射線(這正是同步輻射光源提供的!)照射到樣品上時,特定元素的原子會吸收X射線光子,將其內層電子激發到未占據態或電離出去。 2、吸收截面在特定能量(對應元素的吸收邊)會突然增大。但在吸收邊附近(邊前、邊中和邊后)的吸收系數并非單調變化,而是呈現出振蕩現象。 這些振蕩就是 X射線吸收精細結構 (XAFS)。它包含了原子周圍局部環境的信息。

杭州博測材料科技有限公司
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簡介:杭州博測材料科技有限公司成立于2024年,專注材料的分析、檢測與研發提供高效的技術服務。
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    杭州博測材料科技有限公司 2025-08-07

    XAFS(X射線吸收精細結構)是物質在吸收X射線時,在吸收邊附近(約±1000 eV范圍內)出現的振蕩結構。其物理基礎是光電子效應:當X射線能量高于某元素內層電子(如K、L邊)結合能時,電子被激發為自由電子波。該波在向外傳播時被周圍原子散射,散射波與出射波發生干涉,形成吸收系數的振蕩。這些振蕩的幅度、頻率和相位攜帶了吸收原子周圍局域結構的信息(配位原子種類、距離、數量及無序度)。EXAFS(擴展邊)對應高能區(>50 eV以上),反映短程有序結構;XANES(近邊)對應近邊區(約-10至50 eV),反映電子結構、氧化態及三維幾何構型。

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