GMS1920快速臥式分布光度計是一種通過旋轉燈具,實現B-β、A-α和C-γ等多種測量方式的分布式光度計。根據CIE、IESNA、國家標準等要求,用于測量室內照明燈具、投光燈具、道路照明燈具的空間光強分布及多種光度參數。包括:空間光強分布、任意截面上的光強分布曲線(可分別用直角坐標系或極坐標系顯示)、空間等光強曲線、平面等照度分布曲線、亮度限制曲線、環帶光通量、眩光等級、燈具效率、有效發光角、上射光通量、下射光通量、燈具總光通量、有效光通量、利用系數以及通過數字電參數測量儀同時實現電壓、電流、功率、功率因數等電性能參數測量,并生成完整的燈具光電性能參數報告。本系統可實現雙立柱(B-β、A-α)或單立柱(C-γ)測量工作方式。分布光度計用于測量各類燈具(如室內燈具、路燈、投光燈等)的光強分布,以確定燈具的配光曲線。北京燈具IES分布光度計商品價格
翊明分布光度計主適用于各類光源及燈具的空間光度分布(配光曲線)的測試。節能鹵素燈、LED、節能燈、熒光燈、白熾燈、HID燈、投光燈、筒燈、格柵燈、面板燈、路燈等室內及室外照明燈具。分布光度計主要用于燈具及光源配光性能的測量,即燈具激光源在空間不同方向的光度,色度量值分布。測量參數包括:光強分布曲線、光強數據、有效發光角、光束角、總光通量、區域光通量、上射光通量、下射光通量、燈具效率、等照度圖、等光強圖、利用系數、亮度限制曲線、眩光等級、大允許距高比、燈具概率曲線、UGR統一眩光值、有效平均照度曲線等。深圳快速分布光度計商品價格航標燈分布光度計測試系統。
光強分布曲線測試是一種測試光學系統光強分布的技術,主要通過測量光在空間中的分布情況,并繪制出相應的曲線圖來描述光的強度分布情況。由于光學系統中不同位置的光強度不同,因此對光強分布曲線的測試可以幫助我們更好地了解光在系統中的運動和傳遞規律。在進行光強分布曲線測試時,通常采用光路干涉法或掃描法。光路干涉法主要使用干涉儀,通過干涉光束得到光強分布情況。而掃描法則通過掃描測量系統的物面或像面,得到光在不同位置的強度分布情況。兩種方法各有優劣,選擇合適的測試方法應根據測試目的和實驗條件來進行選擇。
分布光度計在燈具測量中具有***且重要的應用,主要包括以下幾個方面:光強分布測量:可以精確測定燈具在各個方向上的光強值,從而繪制出光強分布曲線。這對于評估燈具的照明效果、光斑形狀以及光的指向性非常關鍵。照度分布測量:幫助確定燈具在特定空間或平面上產生的照度分布情況。這對于室內照明設計、道路照明規劃等具有重要指導意義。亮度測量:能夠測量燈具的亮度分布,為評估燈具的視覺舒適度和防止眩光提供數據支持。燈具效率評估:通過測量燈具發出的總光通量以及在不同方向上的光分布,計算燈具的光效,判斷其能源利用效率。配光曲線繪制:生成燈具的配光曲線,直觀展示燈具的光輸出特性。這有助于燈具制造商優化產品設計,以及照明設計師選擇合適的燈具。顏色參數測量:除了光度參數,還可以同時測量燈具的顏色相關參數,如色溫、顯色指數等,***評估燈具的光學性能。燈具類型比較:對不同類型、不同型號的燈具進行測量和對比,為市場競爭和產品選型提供客觀依據。質量檢測:在燈具生產過程中,用于質量檢測和控制,確保燈具符合相關標準和規范。航空障礙燈分布光度計測試系統。
翊明臥式分布光度計采用探測器靜止,轉動燈具的測量原理,實現光源或燈具各個方向上的光強分布測量,滿足CIE、IESNA等國際、國內標準等要求,配不同軟件實現C-γ、A-α和B-β等多種測量方式。是翊明科技自主設計了計算機控制的高精度兩軸連續旋轉燈具工作臺,有效消除了現有結構來回轉向間隙,采用高導電率的金屬制成具有錯層結構的導電滑環,隔離驅動電路和控制電路,消除了大電流對控制電路的干擾,實現了燈具的三維平穩運動,提高了整機的可靠性與測量精度。創新設計了金屬電熱膜環繞加熱恒溫腔,加熱場分布更加均勻,并通過模糊控制算法控制金屬導電膜電流大小,使恒溫控制更加快速、穩定,減少了測試系統溫度波動,保證了光電轉換的準確,提高了分布光度計的精細度。汽車前照大燈配光曲線測試分布光度計。佛山照明光源檢測設備分布光度計調試
分布光度計的應用范圍不斷擴大,為更多行業提供照明測量解決方案。北京燈具IES分布光度計商品價格
光強空間分布測試系統是一種專門用于測試光線強度空間分布的設備。該系統通過測量光束在不同空間位置的強度分布,可以提供有關光源空間分布、光學系統成像質量和光束聚焦效果等方面的重要信息。此外,該系統還可以用于測試機器視覺、光學測量、自動化工業等領域。該系統的工作原理是利用特殊的探測器來對光束進行探測和測量,然后通過計算和分析,生成空間光強分布的圖像。由于該系統具有高度的自動化和智能化程度,可以適用于各種復雜的測試場景,并且還可以通過數據接口和網絡接口與其他測試設備進行聯動,實現***、高效的測試和分析。因此,光強空間分布測試系統是一種功能強大、性能穩定的測試設備,為光源的性能評估和研發提供了有力的支持,是現代科學研究和工程領域必不可少的重要工具。北京燈具IES分布光度計商品價格
分布光度計暗室的要求***部分:1、溫度要求根據CIE70和LM-79的要求,在使用分布式光度計進行測量時,通常是在25°的環境溫度下進行的。對于光通輸出對溫度影響很明顯的光源,溫度容限應該為±1°,其他光源為±3°。如果測試是在不同的環境溫度下進行的測試,溫度應該予以陳述。為了達到這種測試環境,通常要求在燈具安裝的環境中安裝空調,以便進行溫度控制。同時需要配備精度為0.01°的溫度計進行溫度校準。2、雜散光要求雜散光可以使光強分布測試結果失敗,所以推薦在光源和光度探頭接收面之間使用擋屏來限制入射的雜散光,但擋屏不能在光束中引起阻隔。通過在光源和光度探頭的中間位置放置一個**小可能尺寸的屏來判...