深圳市科星恒達電子有限公司2025-08-07

測試線性穩壓器IC芯片長期可靠性，常采用加速壽命測試方法。將芯片置于高溫、高濕度、高電壓等加速應力環境下，模擬其在實際使用中可能遇到的極端情況，以縮短測試時間。比如高溫存儲測試，將芯片放置在125℃甚至更高溫度的環境中，持續數百小時，監測芯片的各項性能參數，如輸出電壓精度、電流輸出能力、紋波抑制比等，觀察是否出現性能退化。還會進行溫度循環測試，讓芯片在-40℃到125℃等溫度區間內反復循環，測試次數可達數千次，檢測芯片在溫度劇烈變化下的可靠性，查看是否有引腳焊點開裂、內部電路斷路等問題。此外，還會開展長期的電氣性能監測，在正常工作條件下，長時間給芯片加載不同負載電流，持續監測輸出電壓穩定性，以此評估芯片在長期使用中的可靠性。?

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