徠卡金相顯微鏡是將光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術很好地結合在一起而開發研制成的高科技產品，可以在計算機上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進行分析，評級等以及對圖片進行輸出、打印。金相顯微鏡是專門用于觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡。這些不透明物體無法在普通的透射光顯微鏡中觀察，因此金相和普通顯微鏡的主要差別在于前者以反射光，而后者以透射光照明。在金相顯微鏡中照明光束從物鏡方向射到被觀察物體表面，被物面反射后再返回物鏡成像。這種反射照明方式也用于集成電路硅片的檢測工作。徠卡金相顯微鏡是一種應用較多的光學儀器，可以及早發現材料加工生產中的問題，改善熱處理操作，防止產生廢棄物，提高產品質量。該設備已成為鋼鐵冶煉、材料加工等行業重要的測量分析儀器，也廣泛應用在高校的實驗研究教學中。數字化是提升測量能力，滿足現產要求的有效手段，可用于觀察生物切片、生物細胞、細菌以及組織培養、流質沉淀等，與此同時，也可以觀察其他透明或者半透明物體以及粉末、細小顆粒等物體。儀器特點：1.采用無限遠光學系統。3.機械移動載物平臺，內置可旋轉圓形載物臺板。上海選顯微鏡廠家,有品牌保證,用的放心-茂鑫顯微鏡供應。珠海顯微鏡供應商

采購之前先了解什么類型的顯微鏡適合您要檢測的樣品？顯微鏡根據觀察樣品的不同可以按功能來劃分：一般有金相顯微鏡、偏光顯微鏡、體視顯微鏡、生物顯微鏡、熒光顯微鏡等。而不同的功能顯微鏡用法也不同，像偏光顯微鏡主要應用于像地質礦石等各種異性非金屬材料檢測的研究。金相顯微鏡主要應用于金屬等多中國不透明材料觀察，鑒別和分析內部結構組織。適用于廠礦企業、高等院校及科研單位等部門。該儀器配用攝像裝置，可提取金相圖譜，并對圖譜進行測量分析，對圖像進行編輯、輸出、存儲、管理等功能。體視顯微鏡適用于微米級實效分析、斷口檢測、電子工業生產線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷（印刷錯位、塌邊等）的檢定、單板PC的檢定、及所有對樣品表面有細致觀察的領域，配測量軟件可以測量各種數據。生物顯微鏡主要使用于醫療衛生領域及學校、科研單位進行醫療診斷、化驗、教學、研究。所以說，在采購前應該弄清楚自己要觀察的樣品是什么，這樣商家才能給您推薦合適的顯微鏡。珠海顯微鏡供應商顯微鏡生產廠家-茂鑫顯微鏡廠家直銷 量大從優 價格實惠質量放心。

透射電子顯微鏡TEM透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,簡稱TEM），是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。1背景知識在光學顯微鏡下無法看清小于，這些結構稱為亞顯微結構或超細結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM分辨力可達。▽電子束與樣品之間的相互作用圖來源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[書]透射的電子束包含有電子強度、相位以及周期性的信息，這些信息將被用于成像。2TEM系統組件TEM系統由以下幾部分組成：l電子.：發射電子。由陰極，柵極和陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速和加壓的作用。

徠卡顯微鏡操作簡單，高對比度，可以接裝照相、攝影裝置。在連接多達5個物鏡的基礎上們可以輕松實現多倍數的觀察操作，便于操作，可以實現快捷高效的研究分析。這是一臺長壽命、高質量的顯微鏡，是基礎實驗室和教學顯微鏡的理想選擇。適用于病理學、細胞學與血液學研究，它具有電動物鏡轉盤、聚光頂鏡、自動光線強度調節裝置與可選腳踏開關。這種直觀的顯微鏡改善了細胞學與病理學研究的操作流程。徠卡顯微鏡性能特點：1、結構簡單，使用可靠：通過白光(4500K)LED照明和徠卡高質量光學設備更佳匹配。2、大功率LED照明：適用于明場、暗場、微分干涉和偏光的多功能光源。3、光學部件：具有鮮明對比度和銳化的圖像與高分辨率視場和優化圖像視場結合。4、使用可靠：彩色編碼光圈輔助裝置(CCDA)、內置對焦止動裝置、內置式斜照明裝置確保使用方便、可靠。5、配置靈活：不但使用功能適用所有樣本，也使得購置更節省。6、簡化文件記錄過程：攝像頭與軟件結合，實現數據快速準確地分析、歸檔。茂鑫立體顯微鏡廠家歡迎廣大新老客戶來電恰談。

1.斥力模式原子力顯微鏡（AFM）微懸臂是原子力顯微鏡（AFM）關鍵組成部分之一，通常由一個一般100～500μm長和大約500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微懸臂頂端有一個尖銳針尖，用來檢測樣品－針尖間的相互作用力。對于一般的形貌成像，探針尖連續（接觸模式）或間斷（輕敲模式）與樣品接觸，并在樣品表面上作光柵模式掃描。通過計算機控制針尖與樣品位置的相對移動。當有電壓作用在壓電掃描器電極時，它會產生微量移動。根據壓電掃描器的精確移動，就可以進行形貌成像和力測量。原子力顯微鏡（AFM）設計可以有所不同，掃描器即可以使微懸臂下的樣品掃描，也可以使樣品上的微懸臂掃描。原子力顯微鏡（AFM）壓電掃描器通常能在（x,y,z）三個方向上移動，由于掃描設計尺寸和所選用壓電陶瓷的不同，掃描器比較大掃描范圍x、y軸方向可以在500nm～125μm之間變化，垂直z軸一般為幾微米。好的掃描器能夠在小于1尺度上產生穩定移動。通過在樣品表面上掃描原子力顯微鏡（AFM）微懸臂。茂鑫實業（上海）有限公司作為一家代理德國徠卡清潔度檢測儀DM4M、孔隙率檢測儀、3D掃描儀DVM6、影像測量儀等檢測設備的公司，茂鑫實業將在展覽會上展示其新的產品和技術，以滿足客戶的需求。各種元件的性能說明 (1) 相位板使直接光的相位移動 90°，并且吸收減弱光的強度。阜陽顯微鏡供應

偏光顯微鏡（Polarizing microscope）是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。珠海顯微鏡供應商

微懸臂被壓電驅動器激發到共振振蕩。振蕩振幅用來作為反饋信號去測量樣品的形貌變化。在相位成像中，微懸臂振蕩的相角和微懸臂壓電驅動器信號，同時被EEM（extenderelectronicsmodule）記錄，它們之間的差值用來測量表面性質的不同（如圖）?？赏瑫r觀察輕敲模式形貌圖像和相位圖像，并且分辨率與輕敲模式原子力顯微鏡（AFM）的相當。相位圖也能用來作為實時反差增強技術，可以更清晰觀察表面完好結構并不受高度起伏的影響。大量結果表明，相位成像同摩擦力顯微鏡（LFM）相似，都對相對較強的表面摩擦和粘附性質變化很靈敏。目前，雖然還沒有明確的相位反差與材料單一性質間的聯系，但是實例證明，相位成像在較寬應用范圍內可給出很有價值的信息。例如，利用力調制和相位技術成像LB膜等柔軟樣品，可以揭示出針尖和樣品間的彈性相互作用。另外，相位成像技術彌補了力調制和LFM方法中有可能引起樣品損傷和產生較低分辨率的不足，經?？商峁└?辨率的圖像細節，提供其他SFM技術揭示不了的信息。相位成像技術在復合材料表征、表面摩擦和粘附性檢測以及表面污染過程觀察等廣泛應用表明，相位成像將對在納米尺度上研究材料性質起到重要作用。珠海顯微鏡供應商