金相顯微鏡中光欄的作用：實際光學系統，只能在一定的空間和一定光束孔徑范圍內獲得滿意的物象。因此，在光學系統中采用光欄來限制成像空間和光束孔徑。光欄的作用是：1）改善系統成像質量；2）決定通過系統的光通量；3）攔截系統中有害的雜散光等。光學零件的鏡框或專門設置在系統中帶孔的金屬板都是光欄，它的對稱中心一般都是在系統的光軸上。按其用途可分為：孔徑光欄、視場光欄及消雜光光欄等。茂鑫實業為生命科學和工業應用領域提供電子顯微鏡樣品制備儀器和工作流程解決方案.為臨床床和生命科學,外科,材料科學,制造業,法醫學服務,以及教學的用戶提供儀器和服務。常用于生物、醫藥及微小粒子的觀測。電子顯微鏡可把物體放大到200萬倍。寧波高倍顯微鏡
透射電子顯微鏡TEM透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,簡稱TEM），是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。1背景知識在光學顯微鏡下無法看清小于，這些結構稱為亞顯微結構或超細結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM分辨力可達。▽電子束與樣品之間的相互作用圖來源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[書]透射的電子束包含有電子強度、相位以及周期性的信息，這些信息將被用于成像。2TEM系統組件TEM系統由以下幾部分組成：l電子.：發射電子。由陰極，柵極和陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速和加壓的作用。南通進口顯微鏡各種元件的性能說明 (1) 相位板使直接光的相位移動 90°，并且吸收減弱光的強度。
因為我們不容易搞到光學鏡片，在這里我只做到160倍，畫面和清晰度還是非常不錯和.的，感覺和廠家生產的非常接近，如果用這類鏡片制作，在200-300倍之間還是可以的，主要是更換不同焦距的鏡片。首先是材料：厚紙、膠水、放大鏡，木板、釘子等若干。我們先來做物鏡，用一個放大20倍的大倍率放大鏡（如圖），把鏡片從鐵質鏡架上取下，一般情況下朋友們不知道怎么拆，其時在放大鏡的一端有一個環，像螺帽一樣，找到它，順時針或逆時針旋轉，把它扭下來后，放大鏡即可取出。取出的鏡片用厚的白卡紙或銅版紙卷起來粘好固定起來，里面可用墨汁涂黑，減少內壁對光的漫反射，消除干擾，對.成像起到很關鍵的作用，.一點要注意，在物鏡后面切記要做一個光柵，因為這種鏡片不是真正的光學鏡片，色差還是有的，只能用縮小口徑來解決，這塊鏡片的真徑是18毫米，光柵直徑我們只能做到8-10毫米這樣子，很多沒做過光學器材如望遠鏡之類的朋友不一定知道什么是光柵，光柵是為了解決光學鏡片因質量和球差不好而設置的一塊小圓片，它的大小和鏡片（或鏡筒內徑）一樣大，只是中間開著一個小圓孔，圓孔的直徑比物鏡的直徑小，它主要起到縮小物鏡口徑，消除色差，使成像質量更加消晰的效果。
可放在儀器工作臺上之v型塊（17）上進行測量。如被測量零件較大，不能安放在儀器工作臺上，則可放松旋手五、9j光切法顯微鏡的使用與操作方法（一）光切法顯微鏡可用測微目鏡測出表面平面度平均高度值rz，按國家標準，平面度平均高度值rz與表面粗糙度級別的關系如表2所示。表2平面度平均高度值rz/um相當于原精度等級50-10在測量時，所測量的表面范圍不少于五個波峰。為使測量能正確迅速地進行，要求按表1內所列的數據選擇物鏡。（二）被檢工作物的安放和顯微鏡調焦1．被檢工件放在工作臺上時，測量表面之加工紋路應與顯微鏡光軸平面平行，即與狹縫像垂直。并使測量表面平行于工作臺平面（準確到1°）；對于圓柱形或錐形工件可放在工作臺上之v型塊（17）上。2．選擇適當的物鏡插在滑板上，拆下物鏡時應先按下手柄（12），插入所需的物鏡后，放松手柄即可。將儀器木箱正門打開，拆除固定儀器的木枕和壓塊即可將儀器從箱內取出。松開粗動旋手（圖2（a）（6））將顯微鏡升高，把支撐木塊（圖5（1））卸去，取出附件箱（圖5（2））中的物鏡、電源（可調變壓器）和其它附件并裝上儀器后，即可使用。六、9j光切法顯微鏡的維修和保養光切法顯微鏡系精密光學儀器。徠卡顯微鏡-Leica徠卡顯微鏡-茂鑫實業(上海)有限公司。
其合成波振幅減小，光亮變暗；當一個光波恰好推遲半個波長時，則兩個光波的振幅相抵消，產生相消干涉，成為黑暗狀態。如果合成波的振幅比背景光的振幅大，則稱為明反差（負反差）；如果合成波的振幅比背景光的振幅小，則稱為暗反差（正反差）。光線的相位差并不為肉眼所識別，通過光的干涉和衍射現象，相位差變成了振幅差，即明暗之差，肉眼因此得以識別。2.結構及性能與普通光學顯微鏡相比，相差顯微鏡在結構上進行了特別設計，用環狀光闌代替可變光闌，用帶相板的物鏡代替普通物鏡（圖3-5）。相差板是安裝在相差物鏡后面的裝置。相差板分為兩部分，一是通過直射光的部分，叫共軛面，通常呈環狀，另一部分是繞過衍射光的部分，叫補償面，位于共軛面的內外兩側。相差板上裝有吸收膜及推遲相位的相位膜。相差板除推遲直射光或衍射光的相位以外，還有吸收光量使光度發生變化的作用。環狀光闌是由大小不同的環狀孔形成的光闌，安裝在聚光鏡下面，光線只能通過環狀光闌的透明部分射入。不同倍數的相差物鏡要用相應的環狀光闌。光線從聚光鏡下的環狀光闌的縫隙射入直射光，照射到被檢物體上，產生直射光和衍射光兩種光波。在物鏡的后焦面上，設有相差板，直射光通過共軛面。然這些物質也可用染色法來進行觀察，但有些則不可用，而必須利用偏光顯微鏡。寧波高倍顯微鏡
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5.力-距離曲線——簡稱力曲線SFM除了形貌測量之外，還能測量力對探針-樣品間距離的關系曲線Zt（Zs）。它幾乎包含了所有關于樣品和針尖間相互作用的必要信息。當微懸臂固定端被垂直接近，然后離開樣品表面時，微懸臂和樣品間產生了相對移動。而在這個過程中微懸臂自由端的探針也在接近、甚至壓入樣品表面，然后脫離，此時原子力顯微鏡（AFM）測量并記錄了探針所感受的力，從而得到力曲線。Zs是樣品的移動，Zt是微懸臂的移動。這兩個移動近似于垂直于樣品表面。用懸臂彈性系數c乘以Zt，可以得到力F=c·Zt。如果忽略樣品和針尖彈性變形，可以通過s=Zt-Zs給出針尖和樣品間相互作用距離s。這樣能從Zt（Zs）曲線決定出力-距離關系F（s）。這個技術可以用來測量探針尖和樣品表面間的排斥力或長程吸引力，揭示定域的化學和機械性質，像粘附力和彈力，甚至吸附分子層的厚度。如果將探針用特定分子或基團修飾，利用力曲線分析技術就能夠給出特異結合分子間的力或鍵的強度，其中也包括特定分子間的膠體力以及疏水力、長程引力等。圖（force-separationcurve）特征。微懸臂開始不接觸表面（A），如果微懸臂感受到的長程吸引或排斥力的力梯度超過了彈性系數c，它將在同表面接觸之前。寧波高倍顯微鏡
